可程式高低溫試驗箱

可程式高低溫試驗箱

產品簡介：

高溫高濕試驗箱（新品低價銷售），高低溫老化試驗箱，低溫測試箱廣泛用于航空、航天、電子電工產品、儀器儀表、材料、零部件、設備等做加速濕熱試驗、交變濕熱試驗、恒定濕熱試驗，也可用做高低溫例行試驗、耐寒試驗、低溫儲存，以便對試驗中擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評價。

產品特點：

高溫高濕試驗箱（新品低價銷售）低溫測試箱采用進口高級溫濕度控制儀表，帶PID調節(jié)、快速自整定，可設定多種參數，數字式顯示，讀數極為方便；

制冷系統采用進口原裝壓縮機，高效穩(wěn)定可靠；

內膽材料采用高級不銹鋼砂光板，外殼采用冷軋板靜電噴塑，整體外形美觀大方；

箱門與工作室及外殼之間設有耐高溫密封條，有效保證工作室的密封性；

以上尺寸僅供參考，可根據客戶要求設計解決方案。

產品技術參數：

溫度范圍：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃、
溫度均勻度：±2℃（空載時）
溫度波動度：±0.5℃（空載時）
升溫速率：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.0℃/min

高溫高濕試驗箱（新品低價銷售）低溫測試箱滿足試驗標準：

GB10586-89濕熱試驗箱技術條件

GB10586-89低溫試驗箱技術條件

GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB11158 高溫試驗箱技術條件

GB2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法

GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法

GJB150.3-86設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-86設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

GJB150.5-86設備環(huán)境試驗方法 濕度試驗

GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

注：產品具體參數細節(jié)及優(yōu)惠價格可詳談；另可根據客戶需求進行定制